在电子设备维修与检测过程中，准确判断T2和T151可控硅的好坏至关重要。小编将详细介绍如何使用万用表进行测量，以及如何通过外观检查和压降测试来判断其性能。

1.使用万用表进行测试

1.1测试模式选择 将万用表调整至二极管测试模式。这一模式适用于检测可控硅的正向和反向导通特性。

1.2连接方式 将万用表的正极（红色表笔）连接到T151的正极，负极（黑色表笔）连接到负极。如果是在测试触发电压，则将正极连接到触发端，负极连接到控制端。

1.3观察读数 观察万用表的读数。如果读数为开路（即无反向电压）或阻值极高，则可能表示T151已损坏。正常情况下，正向导通时应有较低的电阻值，反向导通时应有较高的电阻值。

2.外观检查

2.1物理损坏检查 仔细检查器件外观，寻找裂纹、烧伤或焊接接触不良的迹象。这些物理损伤可能会影响可控硅的性能。

2.2引脚检查 注意观察引脚是否弯曲或损坏。引脚的损坏可能会导致接触不良，从而影响可控硅的工作。

3.压降测试法

3.1万用表调整 将万用表调整至二极管档位。

3.2连接方式 红表笔负极，黑表笔正极，分别连接到可控硅的正极和负极。

3.3读数分析 通过读数可以判断整流桥的整体压降情况。如果压降值异常，可能表示可控硅存在故障。

4.电压测量法

4.1测量输入输出电压 使用万用表测量控制器输入和输出端的电压，与正常标准值进行对比。电压偏差较大可能意味着控制器存在故障。

5.电阻测量法

5.1测量电阻值 通过测量控制器的电阻值，可以初步判断其好坏。正常情况下，电阻值应在一定范围内。

通过以上方法，可以有效地判断T2和T151可控硅的好坏。在实际操作中，结合外观检查、万用表测试和压降测试等多种手段，可以更准确地评估可控硅的性能，确保电子设备的正常运行。